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        光伏組件常見(jiàn)問(wèn)題及檢測(cè)方法

        來(lái)源:蘭州純水設(shè)備??????2022/12/16 8:58:09??????點(diǎn)擊:
        蘭州純水設(shè)備http://www.mtvonline.com.cn光伏組件常見(jiàn)的質(zhì)量問(wèn)題有執(zhí)郎、陷裂和功率衰減。由于這些質(zhì)量問(wèn)題隱藏在電池板內(nèi)部,或在光伏電站運(yùn)營(yíng)一段時(shí)間后才發(fā)生,在電池板進(jìn)場(chǎng)驗(yàn)收時(shí)難以識(shí)別,需借助專業(yè)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。

        熱斑形成原因及檢測(cè)方法

        光伏組件熱斑是指組件在陽(yáng)光照射下,由于部分電池片受到遮擋無(wú)法工作,使得被意蓋的部分升溫遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于未被遮蓋部分,純水設(shè)備致使溫度過(guò)高出現(xiàn)燒壞的暗斑。

        光伏組件熱斑的形成主要由兩個(gè)內(nèi)在因素構(gòu)成:內(nèi)阻和電池片自身暗電流。

        熱斑耐久試驗(yàn)是為確定太陽(yáng)電池組件承受熱斑加熱效應(yīng)能力的檢測(cè)試驗(yàn)。通過(guò)合理的時(shí)間和過(guò)程,對(duì)太陽(yáng)電池組件進(jìn)行檢測(cè),用以表明太陽(yáng)電池能夠在規(guī)定的條件下長(zhǎng)期使用。

        熱斑檢測(cè)采用紅外線熱像儀進(jìn)行檢測(cè)。紅外線熱像儀可利用熱成像技術(shù),以可見(jiàn)熱圖顯示被測(cè)目標(biāo)溫度及其分布。

        隱裂形成原因及檢測(cè)方法

        隱裂是指電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋,電池片的隱裂會(huì)加速電池片功率衰減,影響組件的正常使用壽命,同時(shí)電池片的隱裂會(huì)在機(jī)械載荷下擴(kuò)大,有可能導(dǎo)致開(kāi)路性破壞。隱裂還可能會(huì)導(dǎo)致熱斑效應(yīng)。純水設(shè)備隱裂的產(chǎn)生是由于多方面原因共同作用造成的,組件受力不均勻,或運(yùn)輸過(guò)程中劇烈的抖動(dòng)都有可能造成電池片的隱裂。

        光伏組件在出廠前會(huì)進(jìn)行EL成像檢測(cè),所使用的儀器為EL檢測(cè)儀。該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理,利用高分辨率的CCD 相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像,獲取并判定組件的缺陷。EL檢測(cè)儀能夠檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?,F(xiàn)象。

        功率衰減分類及檢測(cè)方法

        光伏組件功率衰減是指隨著光照時(shí)間的增長(zhǎng),組件輸出功率逐漸下降的現(xiàn)象。光伏組件的功率衰減現(xiàn)象大致可分為三類:第一類,由于破壞性因素導(dǎo)致的組件功率衰減;第二類,組件初始的光致衰減;第三類,組件的老化衰減。其中,第一類是在光伏組件安裝過(guò)程中可控制的衰減,如加強(qiáng)光伏組件卸車、運(yùn)輸、安裝質(zhì)量控制,可降低組件電池片隱裂、碎裂出現(xiàn)的概率等。第二類、第三類是光伏組件生產(chǎn)過(guò)程中亟須解決的工藝問(wèn)題。光伏組件功率衰減測(cè)試可通過(guò)光伏組件IU特性曲線測(cè)試儀完成。

        1.黑心片(黑團(tuán)片)

        ①產(chǎn)生原因:在直拉硅棒生產(chǎn)過(guò)程中,晶體定向凝固時(shí)間縮短,熔體潛熱釋放與熱場(chǎng)溫度梯度失配,晶體生長(zhǎng)速率加快,過(guò)大的熱應(yīng)力導(dǎo)致硅片內(nèi)部位錯(cuò)缺陷。

        ②成像特點(diǎn):黑芯或黑團(tuán)片在EL成像圖中可以清晰地看到從電池片中心到邊緣逐漸變亮的同心圓,從而導(dǎo)致缺陷的部分在EL測(cè)試過(guò)程中表現(xiàn)為發(fā)光強(qiáng)度較弱或不發(fā)光,從而形成復(fù)合密集區(qū),在通電情況下電池片中心一圈呈現(xiàn)黑色區(qū)域。

        ③組件影響:組件出現(xiàn)此缺陷后,長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行會(huì)造成熱擊穿;在使用組件測(cè)試儀測(cè)試組件/-U測(cè)試特性曲線時(shí),測(cè)試曲線呈現(xiàn)臺(tái)階形狀;同時(shí)長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行會(huì)導(dǎo)致組件功率下降。

        2.短略黑片(非短路黑片)

        ①產(chǎn)生原因:組件單串焊接過(guò)程中造成的短路;組件層壓前,混入了低效電池片造成:硅片使用上錯(cuò)用N型片,無(wú)PN結(jié),故式成像為全黑。

        ②成像特點(diǎn):組件某個(gè)位置出現(xiàn)一塊或多塊電池片呈現(xiàn)全黑現(xiàn)象。

        ③組件影響:會(huì)造成組件IU測(cè)試曲線呈現(xiàn)臺(tái)階,組件功率和填充因子都會(huì)受到較大影響;使被短路的電池片不能對(duì)外提供功率,整塊組件輸出功率降低,IU測(cè)試曲線量大功率下降。純水設(shè)備,實(shí)驗(yàn)室純水設(shè)備, 蘭州純水設(shè)備。

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